一种基于X射线的核桃内部缺陷特征优选检测方法及装置

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一种基于X射线的核桃内部缺陷特征优选检测方法及装置
申请号:CN202511012137
申请日期:2025-07-22
公开号:CN120861437A
公开日期:2025-10-31
类型:发明专利
摘要
本申请涉及农产品无损检测与自动化分选领域,公开了一种基于X射线的核桃内部缺陷特征优选检测方法及装置,该方法包括采集运动中核桃的X射线图像,经预处理提取感兴趣区域RO I后,提取并融合空间域与频域纹理特征形成多维特征集,再通过降维筛选出最优特征组合,最后由预训练的分类器对核桃内部缺陷类型进行识别并输出结果。该装置包括喂料机构、输送机构、X射线检测机构、分选执行机构,以及与各机构电连接的处理与控制系统,本发明通过构建信息互补的多维融合特征集,结合两阶段特征筛选策略与智能算法优化分类模型,解决识别类别单一、模型稳定性与精度不足问题,实现对核桃的高通量、自动化无损分选。
技术关键词
内部缺陷特征 X射线检测机构 核桃 分选执行机构 纹理特征 光电传感器 筛选算法 灰狼优化算法 农产品无损检测 融合特征 电磁阀控制单元 喂料机构 X射线发射源 感兴趣 智能算法优化 控制系统 收集容器 局部二值模式 粒子群优化算法 灰度共生矩阵
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